替え玉受験の疑いで再逮捕

英語能力テスト「TOEIC」をめぐる不正受験事件で、中国人の大学院生らが再逮捕された。当該人物らは都内の試験会場において、実在する中国人になりすまして受験する「替え玉受験」を行った疑いが持たれている。

大学院生らは、すでに偽名を使った不正受験の容疑で逮捕・起訴されていた。今回の再逮捕は、別の試験会場での替え玉受験という新たな容疑によるものである。不正は複数の試験会場にまたがって行われていたとみられる。

小型マイクによる集団不正の疑い

捜査の過程で、小型マイクを使用した集団的な不正行為の疑いも浮上している。偽名の使用、替え玉受験、小型マイクの使用と、複数の手口を組み合わせた組織的な犯行であった可能性が指摘されている。

背景にある構造的要因

TOEICは日本の企業社会で広く活用されており、就職や昇進の場面でスコアが重視されるケースが多い。こうした事情が高スコア取得への強い動機につながっているとみられる。

過去の報道では、中国側のカンニング業者が日本の試験セキュリティの脆弱さを認識したうえで組織的に不正を行っていた実態が明らかになっており、今回の事件もこうした構造の延長線上にあるとみられる。事件の全容解明に向け、捜査が続いている。